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AFM
AFM

FFM

MFM

SPM01

SPM01

SPM
Com01

原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscope: AFM)の基本的な仕組みは、下図のようにカンチレバーと呼ばれる小型のテコの先に付いている探針と試料の原子との間に働く原子間力を検出して表面の形状を画像化します。スキャンする方向を変え表面の摩擦力を観測する摩擦力顕微鏡、磁性材料をコーティングしたカンチレバーを用いることで磁気分布を観測できる磁気力顕微鏡などに応用されます。

STM2

カンチレバーを自励発振させながら試料表面を非接触で走査するACモードと、カンチレバーと試料の間に働く斥力を一定に保ちながら試料表面を走査するコンタクトモードが使用できます。

STM3
afm
カンチレバーと試料の間に働く摩擦力をAFMコンタクトモードのカンチレバーの横方向のねじれから測定します。

afm
磁性材料をコーティングしたカンチレバーを使用し、試料表面から離れたところでの位相をみることによって、磁気分布を測定することができます。コントローラにオプションのMFM制御基板を追加実装します。

Com01

仕様
・ 走査範囲(3種類から選択)
  ナロースキャナ : XY2μm Z 2μm、スタンダードスキャナ : XY 8μm Z 3μm、ワイドスキャナ : XY 50μm Z 5μm
・ ACモード、コンタクトモード
・ FFM像、Vz像の取得(画像サイズは、64, 128, 256, 512, 1024pix)、tiffファイル保存

・ 取得した画像に対するフィルタ等画像処理、3D表示
Com01
仕様
Com01

仕様
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Com01